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供应天瑞* 的 X荧光光谱仪EDX 4500 供应天瑞* 的 X荧光光谱仪EDX 4500 -深圳市天瑞ROHS检测仪器有限公司-供应天瑞* 的 X荧光光谱仪EDX 4500

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公 司: 深圳市天瑞ROHS检测仪器有限公司
发布时间:2016年01月02日
有 效 期:2016年07月03日
联系人:张小姐 女士   加为商友
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张小姐 女士 (业务员 )
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公 司:深圳市天瑞ROHS检测仪器有限公司

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详细说明

    性能参数

产品型号:EDX 4500
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
分析精度:0.05% (含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性)
测量时间:60秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg

性能特点

高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
*新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

标准配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
信噪比增强器 SNE
钢铁行业测试专用配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

应用领域

钢铁检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素等)


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