一、用途
LED冷热冲击试验箱主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用和军用产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子……等材料，可作为其产品改进的依据或参考。
二、规格参数
内部尺寸 WxHxD(mm)
JR-WD-50：360×350×350 ；JR-WD-80:500×400×400 ；JR-WD-100:600×400×400；
JR-WD-150:600×500×500 ；JR-WD-250:700×600×600 ；JR-WD-480:800×800×750
外部尺寸WxHxD(cm)
50L:1560×1750×1440 80L:1700×1800×1440 100L:1800×1800×1440
150L:1800×1900×1540 250L:1900×2000×1640 480L2020×2250×2150
温度范围：低温(B：-40;C：-55;D：-65)~高温+150℃
高温区：+60℃~+200℃
低温区：-10℃~-75℃;
升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min
降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min
温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内
温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃
三、满足标准
GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法
GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法
GJB360.7-87 温度冲击试验
SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式
GJB150.3-86 GJB150.5-86
GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机 |
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