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光学测量仪按20世纪60年代《光学量度》的说法，光学元件表面质量是用“表 洁度来表示的，而表面光洁度是由两项技术指标来体现的：一是由划痕、麻瑕疵的大小和数量划分11个等级(p I-o,P l-iO,P工一20,P I-30,P工一40．PⅢ，PⅣ，PV，PⅥ，PⅦ)；二是由表面的微观几何形状表征，并用表面粗糙房 误差或用表面粗糙度的平均高度(V 1-14)来评价。或许至今，在某些人中{T这一早期传统的说法。
光学三坐标测量按照现代规范的提法是：表面质量性能虽然也是用“表面缺陷”表征以 些内容，但它完全与传统的分级和表示方式不同，而且并没有与“光洁度”联：法。同样地，表面的微观几何形状用“表面粗糙度”表示，与传统 14是一但也不把表面粗糙度与光洁度混为一谈。何况，以往表面粗糙度V 14已是‘表面了，可是，更优秀的表面如何表示却没有办法——这是很大的憾事。
总之，笼统地讲。光洁度”，虽然人们都懂得其含义，但或许也有人单纯 面缺陷，这不符合现代规范的说法。正确的说法是：分别指明是“表面缺陷“表面粗糙度”。
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