GCSTD-A介质损耗测试仪
介电常数测试仪
满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
二、仪器的技术指标
5．Q合格指示预置功能
预置范围：5～1000。
6．Q表正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；
b．相对湿度：<80％；
c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：约25W；
b．净重：约7kg；
c. 外型尺寸：(l×b×h)mm：380×132×280。
8．产品配置：a.测试主机一台；
b.电感9只；
c.夹具一套
1．Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023。
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c．标称误差
项 目 GCSTD-A
频率范围 20kHz～10MHz；
固有误差 ≤5％±满度值的2％；
工作误差 ≤7％±满度值的2％；
频率范围 10MHz～60MHz；
固有误差 ≤6％±满度值的2％；
工作误差 ≤8％±满度值的2％。
2．电感测量范围：14.5nH~8.14H
3．电容测量：1~ 460
项 目 GCSTD-A
直接测量范围 1～460pF
主电容调节范围
准确度 30～500pF
150pF以下±1.5pF；
150pF以上±1％
注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则
4．信号源频率覆盖范围
项 目 GCSTD-A
频率范围 10kHz～50MHz
频率分段
(虚拟) 10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
频率指示误差 3×10-5±1个字
一、 概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至*低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 |
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