􀁺 太阳能电池组件的切片、扩散、焊接、层压和装框等工艺都可能
造成内部缺陷，如工艺污染、材料缺陷、隐裂、碎片、断栅、缺
焊和低效率等。这些肉眼看不见的缺陷将会影响转换效率、降低
可靠性、缩短使用寿命和降低品质质量。
􀁺 我们利用电致发光原理，自主研发的太阳能电池组件内部缺陷检
测设备可以方便快捷地检测出上述缺陷，具有灵敏度高、检测速
度快、结果形象和缺陷自动识别等特点，是提升太阳能光伏组件
品质的关键设备。该设备可以让用户及时和全面掌握太阳能电池
组件内部问题，为改进生产工艺提供依据。
􀁺 用于层压前组件和层压件的隐形缺陷检测可有效地检测电池片存
在的问题，方便进行返修，以达到提高成品率和增加输出功率的
目的；用于成品组件的隐裂检测可以杜绝问题组件流入市场，也
可以通过返修来弥补成品率；用于研究中心，可使技术员对组件
隐裂及其它隐形缺陷进行有效分析。
设备核心技术指标
测试机柜：2200mm(长) ×1800mm(宽) ×900mm(高)
上下料输送台：2000mm(长) × 900mm(宽) × 900mm(高)
设备大小
设备放置环境5℃～40℃(温度)；5～85﹪(湿度)
工作环境15℃～40℃(温度)；10～75﹪(湿度)
电流电压0～30A；0～100V
自动化度自动传输组件，自动上电，自动扫描条形码/产品序列号，自动检测；
设备高度900mm
检测组件大小*大尺寸:2000mm×1000mm（可根据客户特殊要求定制）
检测组件类型太阳能电池组件/电池串/电池片（单晶和多晶）
检测缺陷类型工艺污染、材料缺陷、隐裂、碎片、断栅、缺焊、低效率等。
管理软件自主开发中英文识别与管理软件，图像自动保存、统计、查询与打印
图像表面噪点有微弱噪点无
探测器类型冷却型(常温下30℃) 冷却型(-50℃)
芯片日本索尼美国柯达
探测器生产商国内OEM 德国定制
测试周期15～25秒12～20秒
清晰成像时间5～8秒3～5秒
1360×1024 2048×1360 3032×2016 2048×2048 3326×2504
140万像素双140万像素600万像素400万像素830万像素
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