Nordson DAGE Quadra 系列X射线检测系统
DAGE Quadra 5 X光检查机
主要检测：电子元器件、PCBA 电路板内部焊接，短路，气孔，气泡，裂纹，及异物检查。
Quadra 5 X 射线检测系统适用于亚微米材料的应用，如 PCB 和半导体封装检测、假冒成分筛选和成品质量控制。
广泛应用
球栅阵列（BGA ）
四方扁平无引脚（QFN ）
四方扁平封装（QFP ）
堆叠式封装（POP ）
印刷电路板/印刷电路板组装（PCB / PCBA ）
集成电路（IC）
半导体封装
微电机系统（MEMS ，MOEMS ）
电源管理集成电路（PMIC’s ）/ IGBT
扇出型晶圆级封装（FO-WLP ）
3D堆叠封装
高性能内存
连接器
底部端接元器件（BTC ）
射频设备
焊盘分析
铜柱
微米级球体
镀通孔（PTH ）
焊线分析
Quadra 5 系统规格
射线管
类型：QuadraNT 密封式透射管
特征分辨率：10瓦以内0.35微米，20瓦以内0.95微米
*大功率：10瓦（可选配20瓦）
电压：30 - 160千伏
探测器
类型：Aspire FP
分辨率：300万像素
帧率：25帧/秒
像素点间距：50微米
数字图像处理：16比特
系统
*大几何放大倍率：2500倍
*大总放大倍数：45,000倍
显示分辨率（像素/英寸）：94像素/英寸
显示器：单，24寸，宽屏扩展图形阵列，分辨率为1920 x 1200
斜角视图：70°
主动减振：A iS - X射线图像主动防抖
选配功能
高功率升级：10瓦至20瓦
尺寸：1570 x 1500 x 1900 mm（W x D x H）
重量：1950 K |
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