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供应测试架 Hyinx hi704 供应测试架 Hyinx hi704-深圳圆融达微电子技术有限公司-供应测试架 Hyinx hi704

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公 司: 深圳圆融达微电子技术有限公司
发布时间:2018年02月26日
有 效 期:2018年08月25日
联系人:谢林 先生   加为商友
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谢林 先生 (业务员)
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电  话: 0755-33127975
传  真: 0755-33127975
手  机: 13418498203
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地  址: 中国广东深圳市深圳市龙华新区观澜大富工业园20号智能终端产业园A5 栋一楼
邮  编: 518000
公司主页: http://yuanrongda.qy6.com(加入收藏)
公 司:深圳圆融达微电子技术有限公司

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详细说明

    深圳圆融达微电子技术有限公司(以下称“圆融达”)是有一支专业性技术团队组成,专业研发生产各种芯片封装的测试治具(ic sockets),用于检测芯片的功能好坏。大量供应 Galaxycore、BYD、hyinx、OmniVision、Micron(Aptina)、PXPL、PixArt等品牌的sensor测试治具。

产品特点:
连接度信借口测试,配备度信测试软件速度快,精度高。适用于客户批量生产测试,满足客户需求。
我司拥有大规模生产加工设备,优秀的生产研发队伍,高尚的客户服务理念。生产效率快,维修时间短,受到诸多客户的的良好印象好评。

圆融达(YRD)产品介绍:
HI704测试治具(海力士Hyinx芯片测试夹具) ,适用于海力士摄像头BGA芯片的功能测试好坏的验证和判别。
IC参数:
IC品牌(厂商):海力士(Hyinx)
芯片型号:HI704
封装类型:BGA
跳距(PITCH):0.53(mm)
引脚数量(PIN COUNT):20
芯片大小(IC SIZE):2.877*2.369*0.745(mm)
芯片应用类型:感光芯片(coms sensor)
芯片应用领域: 手机摄像头、电脑摄像头
测试架应用范围:PCBA维修、来料检验(IPQC)、芯片筛选、工程项目验证
HI704测试治具特点:
1. 座头采用手动翻盖结构,操作灵敏。
2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构,下压力度平稳,保证IC的压力均匀,不偏移。
3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层,接触性能稳定, 保护锡球外形。
4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。
5. 特殊IC载板结构,保护探针不受外力损坏。
6. 探针:进口探针,铍铜镀硬金、铑。寿命5-8万次以上,圆融达。
7.维修成本低:方便更换探针,成本低效率高。
8.高强度耐高温绝缘材料:330度。
9.成熟加工精度范围:跳距pitch=0.38mm。
10.交货周期:最快三天内交货。
圆融达产品适用规范:
1、取放IC时,注意IC一脚方向正确,这样可以避免造成产品短路损坏。
2、操作要规范,压扣的力度要适当,这样可以增加测试治具的使用寿命。
3、取放IC是要把电源关闭,这样可以保护主板。
4、测试时要注意观察指示灯或电流表的状态正常。
5、出现连续数颗芯片测试不良,则请用已确认好芯片进行校对,若通过测试,则可以继续测试,如连续校对几次都未通过,则请专业人员检查或维修测试治具。
6、禁止适用洗板水的液体清晰探针和治具。
7、禁止使用硬金属刮碰测试探


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