供应覆层测厚仪|薄膜测厚仪TT240

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公　司：南京天测科技有限公司市场部

发布时间：2010年09月07日

有效期：2011年03月06日

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详细说明

涂层测厚仪概述

TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业必备的仪器。

符合以下标准：

GB/T 4957-1985 涡流方法
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

涂层测厚仪技术参数

测头类型：N
测量原理：电涡流
测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式：分体式导线连接
示值误差：
一点校准(um)：±[3%H+1.5]
两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件：
*小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
基体*小面积的直径(mm)：ф5
*小临界厚度(mm)：0.3
温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
统计功能：平均值、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：无
存储能力：350个测量值
打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
关机方式：手动和自动
电源：二节AA型碱性电池
外形尺寸：152×47×35mm
重量：370g

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