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供应手机测试治具 供应手机测试治具-深圳凯智通微电子技术有限公司-供应手机测试治具

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公 司: 深圳凯智通微电子技术有限公司
发布时间:2023年09月20日
有 效 期:2024年03月21日
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公 司:深圳凯智通微电子技术有限公司

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详细说明

    深圳凯智通专业生产各种手机芯片的测试治具,包括手机CPU、UEM、FLASH、BLUETOOTH、RAM等各种芯片

,测试治具外形美观,操作简单,性能稳定,是芯片厂商和手机厂商的得力工具。

产品特点及性能参数:

※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※ 高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;
※ 采用浮板结构,对于BGA IC 有球无球都能测,
※ 探针材料:铍铜(标准),
※ 探针可更换,维修方便,成本低。
※ 绝缘材料:电木、FR4、
※ 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离);
※ 交货快:最快三天内交货。

产品服务:

※ 三个月免费保修(人为损坏除外)。
※ 保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。
※ 可以免费提供相关的技术支持。


我公司专业研制、开发、生产各类IC的测试治具,向客户提供专业的集成电路测试、烧录、老化试验等的

连接解决方案;专业研制、开发、生产各类高性能、低成本的IC测试架,测试座,烧录座,老化座等,适

用于多种封装:BGA,PGA,QFN,GCSP,CLCC,QFP,TSOP……

已申请中国国家专利,专利号(部分):ZL2004100152975;ZL200420015309.X;ZL200510036732.7;

ZL200520063479.X;ZL 20061033402.7;ZL 200710073233.4;ZL 200720118476.0


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