供应DDR3内存条测试治具

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公　司：深圳凯智通微电子技术有限公司

发布时间：2023年09月20日

有效期：2024年03月21日

联系人：陈英姿女士

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企业信息

陈英姿女士 (销售工程师)

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电　　话： 18938976413 传　　真： 0755-27340798 手　　机： 13714198374 在线联系：地　　址：中国广东深圳市深圳宝安福永镇稔田社区稔田南路14号厂房邮　　编： 518103
公司主页：	http://chenyingzi20.qy6.com(加入收藏)

详细说明

供应DDR3单面内存条测试治具

产品特点及性能参数:

◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试所有内存IC（宽度≤12MM）；

◆有球无球均可测试（只需更换上盖的IC压板）；

◆采用手动翻盖式结构，操作方便；

◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；

◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损坏锡球；

◆高精度的定位槽，保证IC定位精确，测试效率高；

◆测试准确性高，大大减少误判率；

◆采用进口双头针，探针可更换，维修方便，成本低；

◆绝缘材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框铝合金材料制作；

◆测试频率可达1066M Hz；

◆测试寿命长，有效测试10万次以上；

◆内存条测试治具测试规格：DDR2X8

一次性可测试8颗内存颗粒；

◆可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具

◆可以免费提供相关的技术支持。

产品服务：

※半年免费保修（人为损坏除外）。

※保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。

※可以免费提供相关的技术支持。

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