镀层厚度测量/镀层元素种类、含量分析
本仪器专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求，特别设计该款仪器，其特点可以概括为以下几点：
1.上照式 2.测试组件可升降 3.高精度移动平
4.小孔准直器 5.高分辨率探测器 6.可视化操作
7.自动定位高度 8.自动寻找光斑 9.鼠标定位测试点
10.良好的射线屏蔽 11.超大样品腔 12.测试口安全防护
X荧光镀层测厚仪 Thick800A特点
1.最薄可测试0.005μm；
2.准直孔达到0.1mm以内，测试光斑0.2mm以内；
3.电子高度感应器；
4.微小光斑的自制铜光管；
5.高精度样品移动平台。
性能特点：
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准；
良好的射线屏蔽作用；
测试口高度敏感性传感器保护。
应用领域：
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测；
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定；
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；
银行，首饰销售和检测机构；
电镀行业。
标准配置：
开放式样品腔；
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动；
双激光定位装置；
铅玻璃屏蔽罩；
Si-Pin探测器；
信号检测电子电路；
高低压电源；
X光管；
高度传感器；
保护传感器；
计算机及喷墨打印机。
技术指标：
型号：Thick 800A；
元素分析范围从硫(S)到铀（U）；
一次可同时分析最多24个元素，五层镀层；
分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm；
分析含量一般为2ppm到99.9% ；
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）；
任意多个可选择的分析和识别模型；
相互独立的基体效应校正模型；
多变量非线性回收程序；
多次测量重复性可达0.1%；
长期工作稳定性可达0.1%；
度适应范围为15℃至30℃；
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源；
仪器尺寸：576(W) x 495 (D) x 545（H） mm；
重量：90 kg。 |
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