X-ray电镀层厚度检测仪产品技术参数介绍，thick800aX-ray电镀层厚度检测仪具有良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。能够满足各种金属层不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加精准。天瑞仪器X-ray镀层测厚仪Thick800A是基于X射线荧光无损分析原理的快速镀层测验，是一款上招式设计的，自带三维移动平台，XYZ可定点，在镀层检测中可谓大展身手。
技术指标
SDD半导体探测器：探测器输入电压：±12V，+5V，探头窗口面积：25mm-2---，探头窗口厚度：0.5mil，分辨率：140±5eV，探头内制冷温度：<-40℃。
X射线光管：管压：5-50kV，管流：0-1mA，靶材：W靶，窗口：铍窗，制冷方式：风冷，工作温度：≤75℃。
高压发生器：输入电压：24V，输入*大电流：5A，管压：0-50kV，管流：0-2mA，灯丝*大电压：5V
，灯丝*大电流：3.5A
MCA多道分析器：输入电压：±12V，+5V，采样频率：100 KHZ，脉冲幅度：0-7.6V，A/D位数：12位
分析道数：2048道
准直器系统：准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)，滤光片：Mo(可根据要求选配)
高清晰摄像头：传感器类型：CCD（彩色），接口：USB2.0，传感器厂商：索尼，快门类型：面阵，光学尺寸：1/4英寸，有效像素：659(H)×494（V），有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：感应度：0.58V（索尼标准）
颜色排列：RGB
帧率：30fps
快门速度：1/1538-1/30（秒）
自动对焦系统：通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm
应用领域：
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
样品测试谱图，高清，谱线明显。 |
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