温度冲击试验
[温度冲击试验项目介绍]
本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
[温度冲击试验业务范围]
1.计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等
2.电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等。
3.电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备；
4.其他：包装箱、运输设备等。
温度冲击试验测试标准
IEC 60068-2-14，GB/T 2423.22,GJB 150.5等
[温度冲击试验设备参数]
设备型号：CJ602S3 Ⅰ
试验温度范围：-75℃～200℃
高温设定范围：+60℃～+200℃
低温设定范围：0℃～-75℃
温变速率：≤5Min
内箱尺寸：670×650×460mm
[一通检测温度冲击试验优势]
a.专业的技术团队为您的产品量身定做可靠性设计及测试方案；
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c.对于您所需要的可靠性方面的所有技术问题及测试问题，您都会得到最专业的解答。
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e.一对一配备客服专员和技术工程师，让您在测试过程中感受贴心服务。
温度冲击试验
项目介绍
本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
一通检测实验室测试参考标准
IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等
试验适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，军工，研位，等单位.
一通检测实验室设备参数
设备型号：CJ602S3 Ⅰ 试验温度范围：-75℃～200℃ 高温设定范围：+60℃～+200℃ 低温设定范围：0℃～-75℃
陈松 （Jack）
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