QFN36-0.5 翻盖弹片测试座 qfn36 老化座编程座 HMIL

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公　司：深圳市鸿怡电子有限公司

发布时间：2019年06月20日

有效期：2019年12月20日

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QFN36翻盖弹片测试座

产品简介

产品用途编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装 QFN36引脚间距0.5mm
测试座 QFN36-0.5
特点底部引出引脚为不规则排列

规格尺寸

QFN36编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：

型号引脚间距(mm) 脚位芯片尺寸
QFN-36-0.5 0.5 36 6*

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