供应美国Calmetrics (钯-镍/Pd-Ni)镀层标准片
品牌： Calmetrics 产地：美国
美国CalMetics一系列标准片(standard)，标准片通过A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)认证，都是美国原厂制作标准片的专业认证公司。
美国Calmetrics镀层标准片适用于费希尔Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、博曼BOWMAN、禾苗、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。
特色：标准片NIST、A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好
X-Ray、β-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片
X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书），美国Calmetrics公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片及RoHS标准片，以及对标准片进行重新鉴定，其所有证书都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国国家标准学会）标准。
可以提供X射线测厚仪标准片之外，还可以提供β射线测厚仪和库伦测厚仪标准片及库仑测厚仪的标准测试药水。并有X射线测厚仪、β射线测厚仪、磁感应测厚仪、涡电流测厚仪、库仑测厚仪等出售。
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。
我司在中国地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪,美国Thermo第二代 光学准直器X荧光测量仪及CMI900 X射线镀层测量仪。此两种仪器主要用于涂镀层厚
度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。
镀层标准片（可提供特别订制）：
钯-镍(Pd-Ni) 3种型号
SPDNI30-80 Pd-Ni/XX 30u” (0.75um) 80%Pd
SPDNI80-80 Pd-Ni/XX 80u” (2.0um) 80%Pd
SPDNI120-80 Pd-Ni/XX 120u”(3.0um) 80%Pd
十多年来，奔蓝科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和*优质的服务都得到客户*高的奖励，在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。
Tags: X-RAY标准片,电镀标准片,膜厚标准片,薄膜标准片,镀层标准片 |
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