玉米考种分析系统

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玉米考种分析系统

玉米考种分析系统//玉米考种分析系统

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公　司：浙江托普仪器有限公司

发布时间：2015年01月14日

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详细说明

玉米考种分析系统
仪器型号：TPKZ-1
功能特点：专业玉米籽粒、果穗、截面的精确考种以及出苗数、整齐度、均匀度分析。
功能特点：
1、籽粒分析：粒数，粒长，粒宽，粒型，均匀度，平均粒长，平均粒宽，有胚尖粒数，面积，周长，直径，长宽比例，圆度，千粒重等；
2、截面分析：籽粒行数，轴粗，粒长，粒宽。可一次性自动测量至少15个截面。
3、整穗分析：果穗长度，穗粗，秃尖长，穗型，左右穗缘角，穗行角，平均粒高（厚），
每粒玉米的高度（厚）。穗行数、穗粒数、可自动获得至少五个果穗平均分析值。
4、其他分析：千粒重，百粒重，籽粒产量。

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