x-ray膜厚测试仪x射线膜厚仪是通过放射x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对人体和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的精确度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
x-ray膜厚测试仪产品特点：
可检测元素范围：AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.结合了大功率X射线管和高分辨率半导体探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。
电制冷固态探测器确保*佳的信/躁比，从而降低检测下限。
探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。
有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。
您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。
一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。
大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。 |
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