膜厚测量仪

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膜厚测量仪

膜厚测量仪//膜厚测量仪

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公　司：深圳市金东霖科技有限公司

发布时间：2014年08月18日

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详细说明

膜厚测量仪x射线膜厚仪是通过放射x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对人体和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的精确度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
膜厚测量仪优势有:
1.高性能、高精度、长期稳定性、快速精确的分析带来生产成本*优化，精确测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.
2.坚固耐用的设计：可靠近生产线或在实验室操作，生产人员易于使用.
3.简单的校准调试：在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果，方法建立只需几分钟，我们提供认证标准片以确保*佳精确度（A2LA和ISO/IEC17025），预置了多种校准参数.

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