CS8800M MAX能量色散荧光光谱仪-材料分析专家
作为一款高性能的立式高性能X射线荧光（EDXRF）材料分析仪，CS8800M MAX配置了高功率X射线激发系统，同时搭配了高计数率和高分辨率的FSDD探测器，它提供了出色的线性动态范围，可在金属、水泥、矿物、采矿、玻璃和陶瓷中实现更高精度的过程和质量控制。
CSX8800M MAX光谱仪主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。
CS8800M MAX专注于对各种材料的主量，微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析，广泛应用于：合金材料，贵金属，铁矿粉，有色金属及粉末，冶金，金属及非金属矿物矿产，耐火材料、耐火原料、钛白粉、石膏、催化剂、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行业、石英、长石、方解石、粘土、岩棉、土壤、固废、除尘灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、炉渣等生产原料及成品化学成分定性定量快速分析，快速准确无损高效环保，无需酸碱化学药剂
CS8800M MAX应用方向
>RoHS筛选测试，有害金属快速筛查
>石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析
>环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制
>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质
>刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物
>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，包装材料
>科研，高校，材料研发
产品特点
•配备Peltier电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率
•能同时进行元素和氧化物成分分析
•特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性。可同时选配氦气系统，实现液体和粉末样品的直接测试
•八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差
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