芯片集成电路量产测试与筛选覆盖：
时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、致模转换器（A/D、D/A、SRD）、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等;
芯片量产测试功能验证测试
目前芯片FT测试主要用到ATE测试系统，包括软件和测试设备、测试硬件。ATE是Automatic Test Equipment的缩写， 于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机， 用于检测集成电路功能之完整性， 为集成电路生产制造之*后流程， 以确保集成电路生产制造之品质。
ATE测试程序主要测试项目如下：
Open/Short test: 检查芯片引脚中是否有开路或短路。
Function test: 测试芯片的逻辑功能。
DC test: 验证器件直流电流和电压参数。
AC test: 验证交流规格，包括交流输出信号的质量和信号时序参数。
Eflash test: 测试内嵌flash的功能及性能，包含读写擦除动作及功耗和速度等各种参数。
Mixed Signal test: 验证DUT数模混合电路的功能及性能参数。
RF test: 测试芯片里面RF模块的功能及性能参数。
军工芯片（集成电路）筛选
军工集成电路的筛选方法与程序主要依据GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序。本标准规定了军用微电子器件的环境、机械、电气试验方法和试验程序，以及为保证微电子器件满足预定用途所要求的质量和可靠性而必须的控制和限制措施。
GJB 548B-2005标准适用于军及空间应用的微电子器件。如果承制方标明或声称其半导体集成电路符合本标准的规定，则必须满足方法 5004、5005 或5010（对复杂微电路）的要求，混合集成电路应满足GJB 2438的要求，同时应满足本标准的一般要求和所引用的其他试验方法的要求，而且产品规范应经标准化机构确认。 |
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集成电路(IC)
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