概述
分析有关技术文件的要求，应用装各（产品）订购过程中实施GJB4239得出的成果，确定装各寿命期内爆炸分离冲蘄环境出现的阶段，根下列环境效应确定是否需要进行本试验。当确定需要进行本试验。且本试验与其他环境试验使用同一试件时，还需确定本试猃与其他试的先后顺序。
环境效应
爆炸分离冲击环境的主要特征见附录A.通常，爆炸分离冲击可能对所有电子装备产生不利影响。
不利影响的程度一般随着爆炸分离冲击的量级和持续时间的增大而增大，并且随着离爆炸分离冲击源〈火工装置）的距离增大而减小。当爆炸分离冲击产生的材料应力波波长与装备中微电子器件固有频率的波长一致时，会增强不利影•通常．结仅传递弹性波，不受爆炸分离冲击的影响。下面给出了与爆炸分离冲击有关问的部分实例：
微电子芯片结完整性破坏所导致的装各故障。
继电器抖动所导致的装备故障的
电路板故障、电路板损伤和电连接器故障所导致的装备故障．有时，爆炸分离冲击可使电路板的多余物迁移，造成短路。
晶体、陶瓷、环氧树脂或玻璃封装中的裂纹和断裂所导致的装备故障。
程序
程序丨，使试件经受是够数量的满足定试条件的冲击或至少3次冲击，取两者中较大者。试验目的是检验装备在火工装置近场的爆炸分离冲击下结构和功能的完整性。
程序Il
程序Il，使试件经受足够数的满足规定试验条件的冲击或至少3次冲击，试验目的是检验装各在火工装置近场的爆炸分离冲击下绿和功能的完整性。
程序Ill
程序Ill，使试件经受足够数量的满足规定试验条件的冲击或至少3次冲击。对于单一的试验状态。沿着多于一个轴向的实洳响应可能满足试验要求。因此．最少重复3次试验冲击将满足三个正交轴的所有方向的要求。在另一极瑞情况下，若每次冲击仅满足一个轴的一个方向的试猃要求•则需要总共9次冲击．试验目的是检验装备在火工装远场的爆炸分离冲市下结构和功能的完整性。
程序丨V
程序丨V，使试件经受足够数量的满足规定试验条件的冲击或至少3次冲击，实测晌应一般不会是全方向的。对于程序IV,单一的试验状态可能沿着多于一个轴向同时满足试猃要求，但出现的概率很小。因此，最少重复3次试验冲击将满足三个正交轴的所有方向的要求•在另一端情况下，若每次冲击仅满足一个轴的一个方向的试验要求，则需要总共9次冲击•试验的目的是检验装备在火工装置远场的爆炸分离冲击下结梅和功能的完整性。
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