高低温冲击试验箱也称为冷热冲击试验箱，用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片 IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，高低温冲击试验箱可确认产品的品质，从精密的 IC到重机械的组件，都会用到，高低温冲击试验箱是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
高低温冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。
高低温冲击试验箱技术参数:
温湿度控制仪表：可编程日本OYO9226S触摸屏输入，根据客户要求可任意设定不同高低温冲击温度点，满足做测试的不同需求.
此设备分为：高温蓄热区，低温蓄冷区，产品测试区（三区完全独立）
设备测试区尺寸：36cm*35cm*40cm（宽*高*深）
设备外型尺寸：156cm*175cm*144cm（宽*高*深）
高温槽温度范围：+60 ~200℃.
低温槽温度范围：-10℃~-70℃
实验箱冲击温度：高温 +60～150℃.低温 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃)C：( -10～ -65℃)
高低温转换时间：≤10S
高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）
控制精度：温度±0.2℃（指控制器设定值和控制器实测值之差）
温度波动度：≤0.5℃（温度波动度为中心点实测*高温度和*低温度之差的一半）
温度误差：≤±1℃（工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度）
温度均匀度：≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测*高温度和*低温度之差的算术平均值）
预热区升温速度： ≥3℃/min（非线性）
预冷区降温速度： ≥2℃/min（非线性）
外壳材料：SUS＃304耐热耐寒不锈钢板，一级光面板（也可以做烤漆型处理）
内箱材料：SUS＃304耐热耐寒不锈钢板，一级光面板
保温材料：高密度玻璃棉及高强度PU发泡绝缘材料 |
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