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影像测量仪VIEW Pinnacle 250 影像测量仪VIEW Pinnacle 250//影像测量仪VIEW Pinnacle 250

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公 司: 东莞市天测光学设备有限公司苏州分公司 
发布时间:2024年04月17日
联系人:张人雷 先生 加为商友
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公 司:东莞市天测光学设备有限公司苏州分公司

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详细说明

    高的产出、高的精度尺寸测量仪

影像测量仪VIEW Pinnacle 250


VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着fei凡的精度和生产率,优E的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中较低的购置成本。其独T的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,可轻松应对苛刻的应用。新型的直性运动控制技术造就了运行速度快和可的靠的免维护平台,满足从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量、高性能的操作。
可选的软件包增强系统的通用性:
CAD 导入(DXF/IGES) 软件
形状拟合和分析软件
离线编程软件
QC-Calc™ Statistical Process Control (SPC) —实时分析和报告软件
Elements™ CAD To Measure测量软件
特征:
- 测量范围:250 x 150 x100 mm
- 25公斤承载力
- 亚微米的光栅尺分辨率
- X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400 mm/秒
- Z轴DC伺服回转马达驱动,100 mm/秒
- 误差映射:在XY平面非线性二维纠错
- 双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4倍
- 可编程LED平台背光及同轴表面光照明
- 可编程多色环形灯(PRL)选项
- TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能
- SpectraProbeTM 高分辨率彩色传感器选项
- 好的图像处理性能,快速、精确、稳健
- 双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例
- 次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel
- 独立的Anthro Cart Operator工作站
- 强大的测量软件和数据分析工具可供选择
- 平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时
Benchmark的应用范围包括:
半导体/电子
BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die
引线框,引线接合,柔性线路板,连接器
SMT元件贴装
锡膏/环氧数脂胶点
芯片载体和托盒
喷墨打印机墨盒
光纤组件和MEMs
数据存储
悬置件
滑块和悬臂组(HGA)
磁盘介质基板
精密注塑和机加工


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