推力试验探针HT-I20& HT-I21

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公　司：广州泓通检测设备制造有限公司

发布时间：2018年03月22日

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详细说明

一、产品概述
本套探针分别符合GB2099.1-2008标准中的图9及图 10、IEC884-1.2002图9及图10要求，20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及，1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及。

二、技术参数
20N推力试验探针HT-I20：探针部分3+0.03 0×1+0.015 0 ×80±0.5，端部倒圆R0.2±0.05，20N推力;
1N推力试验探针HT-I21：探针部分Φ1+0.015 0 ×80±0.5，端部倒圆R0.05，1N推力

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