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公 司: 深圳市鼎极天电子有限公司
发布时间:2019年11月19日
有 效 期:2020年05月20日
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公 司:深圳市鼎极天电子有限公司

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详细说明

    应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ,从质

量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。

技术参数

主要规格 规格描述

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等

功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准

75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选


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