供应电子电路失效分析

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供应电子电路失效分析

供应电子电路失效分析-深圳市八六三计划材料表面技术研发中心-供应电子电路失效分析

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公　司：深圳市八六三计划材料表面技术研发中心

发布时间：2015年12月07日

有效期：2016年06月07日

联系人：张国平先生

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张国平先生 (业务)

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电　　话： 0755-86715013 传　　真： 0755-86523730 手　　机： 18823783387 在线联系：地　　址：中国广东深圳市龙岗区坪地坪西路口通产丽星工业园1幢二楼邮　　编：
公司主页：	http://wld863.qy6.com(加入收藏)

详细说明

适用产品：

1．电子元器件包括元件(电阻、电容、继电器、开关、连接器等)、分立器件(二极管、三极管、MOSFET等)、集成电路(小、中、大、超大规模集成电路等)、微波器件、模块(电源模块、功率模块、频率模块等)、电路板及其组件。
2．PCB板：金属基板、柔性电路板、无卤素基板
3．PCBA：通孔焊接、SMT组装、BGA组装、MEMS
检测项目：

1．电子电路产品的机械性能、热学性能、电学性能、化学性能及可靠性分析；
2．电子电路产品长期使用可靠性产品评测；
3．电子电路产品使用过程失效后从物理及化学角度进行分析。
基本程序：

1．信息收集(失效前后的背景资料)；
2．外观检查失效前后产品的差异(金相和体式显微镜)
3．电性能测试(参数测试、功能测试等)；
4．非破坏性物理分析(X-Ray、X-SAM等)；
5．开封及去层(机械开封、化学开封与离子蚀刻)；
6．内部形貌观察(立体显微镜、金相显微镜、SEM、切片)；
7．内部电路分析(探针、FIB、电参数测试)；
8．其他分析与实验验证(SEM-EDS、TTIR、XPS等)
9．综合分析与结论

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