表面异物分析是指对产品表面的微小异物或表面污染物、析出物进行成分分析的技术，例如对表面嵌入异物、斑点、油状物、喷霜等异常物质进行定性分析，藉此找寻污染源或配方不相容者，是改善产品最常用的分析方法之一。根据异物的实际情况选择不同的测试方法：
1. FTIR——如果异物是有机物，通常选用显微红外光谱仪进行分析，获得异物的官能团信息，与标准谱库进行检索，确定异物的主要成分；
2. SEM+EDS——如果异物是金属或者氧化物，并且没有明确的官能团信息，通常选用电子显微镜-X射线能谱分析仪(SEM+EDS)对异物或材料表面进行元素成分分析。
3. XPS——如果异物是金属或者氧化物，并且没有明确的官能团信息，同时是在材料极表面（纳米级别）时，通常选用X射线光电子能谱仪（XPS）进行元素成分分析。常见的异物分析案例有：PCB板上的助焊剂残留、金属件的表面氧化物、PVC线皮析出的物质、螺母的表面油污、塑胶制品中夹杂的白色颗粒、显示屏上的外来物、铜丝表面发黑、焊锡发黑等。
在生产使用过程中，产品表面往往容易被污染、腐蚀、氧化，形成其他异物，一般很难用肉眼分辨，更无法了解其成分与来源，必须通过显微途径观察分析。中心配备有显微红外、放大倍数从10倍-20万倍的扫描电子显微镜和对固体样品元素价态分析的X射线光电子能谱，可以分别对不同现象和类别的异物进行分析。扫描电子显微镜可在分子尺度，对材料微观形貌进行直接观测，同时对微小区域进行X射线能谱测试，分析其成分组成，X射线光电子能谱能够对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析，广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结果鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定等。
主要分析仪器：
显微/傅里叶红外光谱仪(FTIR)、扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM/EDS)、X射线光电子能谱仪(XPS)、二次离子质谱(SIMS)、X射线衍射仪(XRD)等。
主要测试项目：
无机异物分析
有机异物分析
异物源头判定 |
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