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供应温度冲击/快温变/试验箱 供应温度冲击/快温变/试验箱-重庆盖博试验设备有限公司-供应温度冲击/快温变/试验箱

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公 司: 重庆盖博试验设备有限公司
发布时间:2021年02月08日
有 效 期:2021年08月10日
联系人:张路平 先生   加为商友
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张路平 先生 (销售)
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公 司:重庆盖博试验设备有限公司

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详细说明

    WCD系列快速温度冲击试验箱主要特点:

1、整体式结构,符合国际审美的标准化箱体,外形美观大方;门锁装置采用杠杆动力开启机构,经久耐用,维护方便;科学的空气动力学风道结构,可大大提高设备的温度均匀性。

2、中空镀膜电加热玻璃,低温不凝露;便于观察试品的试验情况。

3、采用中文彩色液晶触摸式人机界面及西门子高性能可编程控制器(PLC),配以我公司试验箱专用软件,具有自动、智能、人性化及上下限温度保护等特点。

4、制冷压缩机及关键配件均采用进口国际品牌,运行长久可靠;环保冷媒制冷,符合国际公约要求。

5、多种选配件:RS232/485通讯接口、无纸记录仪、远程温度控制系统(含打印机、通讯软件、电脑及相关连接件)。





预热室
预热温度上限
200℃

温度上升时间
+20~+200℃约20min

预冷室
预冷温度下限
-75℃

温度下降时间
+20~-70℃约80min

工作室
温度冲击范围
(-55℃~-10)~(50~+150℃)

温度波动度
≤±0.5℃

温度偏差
≤±2℃

温度回复时间
≤5min













WCD702S3Ⅰ
条件一
高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC

条件二
高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

WCD702S3Ⅱ
条件一
高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC

条件二
高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC。

条件三
高温+150℃暴露30min,低温-55℃暴露30min,样品重量7.5Kg塑封IC。

WCD703S3Ⅰ

条件一
高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

条件二
高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

WCD703S3Ⅱ
条件一
高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC。

条件二
高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC

条件三
高温+150℃暴露30min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

WCD705S3Ⅰ
条件一
高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

条件二
高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。


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